Изучение структуры низкоразмерных материалов методом анализа СЭМ изображений

Рябинина, М. В.; Звонарев, С. В.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/99534

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Рябинина, М. В.	ru
dc.contributor.author	Звонарев, С. В.	ru
dc.date.accessioned	2021-06-22T08:09:01Z	-
dc.date.available	2021-06-22T08:09:01Z	-
dc.date.issued	2016	-
dc.identifier.citation	Рябинина М. В. Изучение структуры низкоразмерных материалов методом анализа СЭМ изображений / М. В. Рябинина, С. В. Звонарев // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов III Международной молодежной научной конференции (Екатеринбург, 16–20 мая 2016 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2016. — C. 93-94.	en
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/99534	-
dc.description.abstract	The analysis method of SEM images is approved. The opportunity to investigate the material structure with different particle sizes is shown. The SEM image analysis method provides sufficient information about the surface structure of the material needed for the production of materials with improved properties.	en
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	ru	en
dc.publisher	УрФУ	ru
dc.relation.ispartof	Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2016). — Екатеринбург, 2016	ru
dc.title	Изучение структуры низкоразмерных материалов методом анализа СЭМ изображений	ru
dc.title.alternative	THE STRUCTURE INVESTIGATION OF NANOSCALE MATERIALS BY THE SEM IMAGE ANALYSIS METHOD	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	III Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации»	ru
dc.conference.date	16.05.2016-20.05.2016	-
local.description.firstpage	93	-
local.description.lastpage	94	-
Располагается в коллекциях:	Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
fti_2016_046.pdf		352,68 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.