ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/99534| Название: | Изучение структуры низкоразмерных материалов методом анализа СЭМ изображений |
| Другие названия: | THE STRUCTURE INVESTIGATION OF NANOSCALE MATERIALS BY THE SEM IMAGE ANALYSIS METHOD |
| Авторы: | Рябинина, М. В. Звонарев, С. В. |
| Дата публикации: | 2016 |
| Издатель: | УрФУ |
| Библиографическое описание: | Рябинина М. В. Изучение структуры низкоразмерных материалов методом анализа СЭМ изображений / М. В. Рябинина, С. В. Звонарев // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов III Международной молодежной научной конференции (Екатеринбург, 16–20 мая 2016 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2016. — C. 93-94. |
| Аннотация: | The analysis method of SEM images is approved. The opportunity to investigate the material structure with different particle sizes is shown. The SEM image analysis method provides sufficient information about the surface structure of the material needed for the production of materials with improved properties. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/99534 |
| Конференция/семинар: | III Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации» |
| Дата конференции/семинара: | 16.05.2016-20.05.2016 |
| Источники: | Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2016). — Екатеринбург, 2016 |
| Располагается в коллекциях: | Конференции, семинары |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| fti_2016_046.pdf | 352,68 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.