Электронная микроскопия кристаллизации пленок сурьмы

Колосов, В. Ю.; Юшков, А. А.; Веретенников, Л. М.; Пологов, И. Е.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/99316

Title:	Электронная микроскопия кристаллизации пленок сурьмы
Other Titles:	ELECTRON MICROSCOPY OF Sb FILMS CRYSTALLIZATION
Authors:	Колосов, В. Ю. Юшков, А. А. Веретенников, Л. М. Пологов, И. Е.
Issue Date:	2016
Publisher:	УрФУ
Citation:	Электронная микроскопия кристаллизации пленок сурьмы / В. Ю. Колосов, А. А. Юшков, Л. М. Веретенников, И. Е. Пологов // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов III Международной молодежной научной конференции (Екатеринбург, 16–20 мая 2016 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2016. — C. 417-418.
Abstract:	Evaporated Sb thin films with thickness gradients are studied by transmission electron microscopy. Microstructure is changing from amorphous islands to labyrinth structure where crystallization front stops while starting from thicker areas. Strong internal lattice bending up to 100°/μm is revealed.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/99316
Conference name:	III Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации»
Conference date:	16.05.2016-20.05.2016
Sponsorship:	Поддержано Минобрнауки и Прог. 211 правительства РФ (№ 02.A03.21.0006).
Origin:	Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2016). — Екатеринбург, 2016
Appears in Collections:	Конференции, семинары

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
fti_2016_263.pdf		843,3 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record