Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/99316
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorКолосов, В. Ю.ru
dc.contributor.authorЮшков, А. А.ru
dc.contributor.authorВеретенников, Л. М.ru
dc.contributor.authorПологов, И. Е.ru
dc.date.accessioned2021-06-22T08:08:38Z-
dc.date.available2021-06-22T08:08:38Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationЭлектронная микроскопия кристаллизации пленок сурьмы / В. Ю. Колосов, А. А. Юшков, Л. М. Веретенников, И. Е. Пологов // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов III Международной молодежной научной конференции (Екатеринбург, 16–20 мая 2016 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2016. — C. 417-418.en
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/99316-
dc.description.abstractEvaporated Sb thin films with thickness gradients are studied by transmission electron microscopy. Microstructure is changing from amorphous islands to labyrinth structure where crystallization front stops while starting from thicker areas. Strong internal lattice bending up to 100°/μm is revealed.en
dc.description.sponsorshipПоддержано Минобрнауки и Прог. 211 правительства РФ (№ 02.A03.21.0006).ru
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherУрФУru
dc.relation.ispartofФизика. Технологии. Инновации (ФТИ-2016). — Екатеринбург, 2016ru
dc.titleЭлектронная микроскопия кристаллизации пленок сурьмыru
dc.title.alternativeELECTRON MICROSCOPY OF Sb FILMS CRYSTALLIZATIONen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameIII Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации»ru
dc.conference.date16.05.2016-20.05.2016-
local.description.firstpage417-
local.description.lastpage418-
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
fti_2016_263.pdf843,3 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.