Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/99316
Название: Электронная микроскопия кристаллизации пленок сурьмы
Другие названия: ELECTRON MICROSCOPY OF Sb FILMS CRYSTALLIZATION
Авторы: Колосов, В. Ю.
Юшков, А. А.
Веретенников, Л. М.
Пологов, И. Е.
Дата публикации: 2016
Издатель: УрФУ
Библиографическое описание: Электронная микроскопия кристаллизации пленок сурьмы / В. Ю. Колосов, А. А. Юшков, Л. М. Веретенников, И. Е. Пологов // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов III Международной молодежной научной конференции (Екатеринбург, 16–20 мая 2016 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2016. — C. 417-418.
Аннотация: Evaporated Sb thin films with thickness gradients are studied by transmission electron microscopy. Microstructure is changing from amorphous islands to labyrinth structure where crystallization front stops while starting from thicker areas. Strong internal lattice bending up to 100°/μm is revealed.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/99316
Конференция/семинар: III Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации»
Дата конференции/семинара: 16.05.2016-20.05.2016
Сведения о поддержке: Поддержано Минобрнауки и Прог. 211 правительства РФ (№ 02.A03.21.0006).
Источники: Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2016). — Екатеринбург, 2016
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
fti_2016_263.pdf843,3 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.