Please use this identifier to cite or link to this item:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/98325
Title: | Оценка факторов, влияющих на измерение УЭС материала со кремния монокристаллического |
Other Titles: | EVALUATION OF FACTORS INFLUENCING THE MEASUREMENT OF ELECTRICAL RESISTIVITY OF MATERIAL OF STANDARD SAMPLES OF SILICON SINGLE CRYSTAL |
Authors: | Мехонцева, Г. И. Гонтарь, Л. А. Терентьев, Г. И. |
Issue Date: | 2019 |
Publisher: | ООО «Издательство учебно-методический центр УПИ» |
Citation: | Мехонцева Г. И. Оценка факторов, влияющих на измерение УЭС материала со кремния монокристаллического / Г. И. Мехонцева, Л. А. Гонтарь, Г. И. Терентьев // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов VI Международной молодежной научной конференции, посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУ (Екатеринбург, 20–24 мая 2019 г.). — Екатеринбург : ООО «Издательство учебно-методический центр УПИ», 2019. — C. 323-324. |
Abstract: | In this paper, the main factors affecting the measurement of the electrical resistivity of the material of standard samples of monocrystalline silicon are estimated, cor-rection factors are selected and appropriate conclusions are drawn. |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/98325 |
Conference name: | VI Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУ |
Conference date: | 20.05.2019-24.05.2019 |
ISBN: | 978-5-8295-0640-7 |
Origin: | Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2019). — Екатеринбург, 2019 |
Appears in Collections: | Конференции, семинары |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
978-5-8295-0640-7_2019_180.pdf | 200,56 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.