Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/98325
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorМехонцева, Г. И.ru
dc.contributor.authorГонтарь, Л. А.ru
dc.contributor.authorТерентьев, Г. И.ru
dc.date.accessioned2021-06-10T10:29:02Z-
dc.date.available2021-06-10T10:29:02Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationМехонцева Г. И. Оценка факторов, влияющих на измерение УЭС материала со кремния монокристаллического / Г. И. Мехонцева, Л. А. Гонтарь, Г. И. Терентьев // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов VI Международной молодежной научной конференции, посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУ (Екатеринбург, 20–24 мая 2019 г.). — Екатеринбург : ООО «Издательство учебно-методический центр УПИ», 2019. — C. 323-324.ru
dc.identifier.isbn978-5-8295-0640-7-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/98325-
dc.description.abstractIn this paper, the main factors affecting the measurement of the electrical resistivity of the material of standard samples of monocrystalline silicon are estimated, cor-rection factors are selected and appropriate conclusions are drawn.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherООО «Издательство учебно-методический центр УПИ»ru
dc.relation.ispartofФизика. Технологии. Инновации (ФТИ-2019). — Екатеринбург, 2019ru
dc.titleОценка факторов, влияющих на измерение УЭС материала со кремния монокристаллическогоru
dc.title.alternativeEVALUATION OF FACTORS INFLUENCING THE MEASUREMENT OF ELECTRICAL RESISTIVITY OF MATERIAL OF STANDARD SAMPLES OF SILICON SINGLE CRYSTALen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameVI Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУru
dc.conference.date20.05.2019-24.05.2019-
local.description.firstpage323-
local.description.lastpage324-
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-8295-0640-7_2019_180.pdf200,56 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.