Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/92467
Название: High-rate low-temperature PVD of thick 10 μm α-alumina coatings
Авторы: Gavrilov, N. V.
Kamenetskikh, A. S.
Tretnikov, P. V.
Chukin, A. V.
Дата публикации: 2019
Издатель: Institute of Physics Publishing
Библиографическое описание: Gavrilov N. V. High-rate low-temperature PVD of thick 10 μm α-alumina coatings / N. V. Gavrilov, A. S. Kamenetskikh, P. V. Tretnikov, A. V. Chukin. — DOI 10.1088/1742-6596/1393/1/012082 // Journal of Physics: Conference Series. — 2019. — Vol. 1. — Iss. 1393. — 12082.
Аннотация: α-Al2O3 coatings have been deposited by evaporation of Al in an anodic arc with a growth rate of ∼ 5 μm•h-1 at 640?C under the conditions of low ionization of the Al vapors and an increased concentration of atomic oxygen, which has been achieved by the use of a hollow anode.Intensive (current density up to 15 mA•cm-2) low-energy (50 eV) ion bombardment has provided deposition of adhesive single-phase nanocrystalline (50-150 nm) α-Al2O3 coatings with a thickness of up to 10 μm with low intrinsic stresses (1.5 GPa) and low microstrains of the crystal lattice (less than 0.1%). The composition of the discharge plasma has been determined using the optical spectroscopy method. The effect of the O2 flow and the hollow anode current on the growth rate of the alumina coatings has been investigated and it has been shown that the increasing degree of O2 dissociation promotes an increase in the growth rate of coatings. © 2019 IOP Publishing Ltd. All rights reserved.
Ключевые слова: ADHESIVES
ALUMINA
ALUMINUM COATINGS
ALUMINUM OXIDE
ELECTRIC DISCHARGES
ELECTRODES
ION BOMBARDMENT
IONIZATION OF GASES
NANOCRYSTALS
PLASMA THEORY
SPECTROSCOPIC ANALYSIS
TEMPERATURE
ALUMINA COATING
ATOMIC OXYGEN
DISCHARGE PLASMA
HOLLOW ANODES
INTRINSIC STRESS
LOW TEMPERATURES
NANOCRYSTALLINES
OPTICAL SPECTROSCOPY
GROWTH RATE
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/92467
Условия доступа: info:eu-repo/semantics/openAccess
Идентификатор SCOPUS: 85077965962
Идентификатор WOS: 000542026500081
Идентификатор PURE: 11898892
ISSN: 1742-6588
DOI: 10.1088/1742-6596/1393/1/012082
Сведения о поддержке: Russian Science Foundation, RSF: 18-19-00567
This work was supported by the Russian Science Foundation (grant No. 18-19-00567).
Карточка проекта РНФ: 18-19-00567
Располагается в коллекциях:Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
10.1088-1742-6596-1393-1-012082.pdf1,03 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.