Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/82577
Название: Методы современной сканирующей электронной микроскопии в исследовании материалов
Авторы: Кузнецов, Д. К.
Дата публикации: 2020
Издатель: Издательство Уральского университета
Библиографическое описание: Кузнецов Д. К. Методы современной сканирующей электронной микроскопии в исследовании материалов / Д. К. Кузнецов // XXIX зимняя Школа по химии твердого тела: материалы (Екатеринбург, 4-8 февраля 2020 г.). — Екатеринбург: Издательство Уральского университета, 2020. — С. 8-9.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/82577
Конференция/семинар: XXIX зимняя Школа по химии твердого тела
Дата конференции/семинара: 04.02.2020-08.02.2020
ISBN: 978-5-7996-3002-7
Сведения о поддержке: Результаты исследований, представленных в докладе, получены с использованием оборудования УЦКП «Современные нанотехнологии» ИЕНиМ УрФУ.
Источники: XXIX зимняя Школа по химии твердого тела. — Екатеринбург, 2020
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-7996-3002-7_2020_003.pdf75,11 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.