Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10995/82577
Title: Методы современной сканирующей электронной микроскопии в исследовании материалов
Authors: Кузнецов, Д. К.
Issue Date: 2020
Publisher: Издательство Уральского университета
Citation: Кузнецов Д. К. Методы современной сканирующей электронной микроскопии в исследовании материалов / Д. К. Кузнецов // XXIX зимняя Школа по химии твердого тела: материалы (Екатеринбург, 4-8 февраля 2020 г.). — Екатеринбург: Издательство Уральского университета, 2020. — С. 8-9.
URI: http://hdl.handle.net/10995/82577
Conference name: XXIX зимняя Школа по химии твердого тела
Conference date: 04.02.2020-08.02.2020
ISBN: 978-5-7996-3002-7
metadata.dc.description.sponsorship: Результаты исследований, представленных в докладе, получены с использованием оборудования УЦКП «Современные нанотехнологии» ИЕНиМ УрФУ.
Origin: XXIX зимняя Школа по химии твердого тела. — Екатеринбург, 2020
Appears in Collections:Конференции, семинары

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
978-5-7996-3002-7_2020_003.pdf75,11 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.