Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10995/82577
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКузнецов, Д. К.ru
dc.date.accessioned2020-05-19T11:40:36Z-
dc.date.available2020-05-19T11:40:36Z-
dc.date.issued2020-
dc.identifier.citationКузнецов Д. К. Методы современной сканирующей электронной микроскопии в исследовании материалов / Д. К. Кузнецов // XXIX зимняя Школа по химии твердого тела: материалы (Екатеринбург, 4-8 февраля 2020 г.). — Екатеринбург: Издательство Уральского университета, 2020. — С. 8-9.ru
dc.identifier.isbn978-5-7996-3002-7-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10995/82577-
dc.description.sponsorshipРезультаты исследований, представленных в докладе, получены с использованием оборудования УЦКП «Современные нанотехнологии» ИЕНиМ УрФУ.ru
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherИздательство Уральского университетаru
dc.relation.ispartofXXIX зимняя Школа по химии твердого тела. — Екатеринбург, 2020ru
dc.titleМетоды современной сканирующей электронной микроскопии в исследовании материаловru
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameXXIX зимняя Школа по химии твердого телаru
dc.conference.date04.02.2020-08.02.2020-
local.description.firstpage8-
local.description.lastpage9-
Appears in Collections:Конференции, семинары

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
978-5-7996-3002-7_2020_003.pdf75,11 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.