Методы современной сканирующей электронной микроскопии в исследовании материалов

Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/82577

Title:	Методы современной сканирующей электронной микроскопии в исследовании материалов
Authors:	Кузнецов, Д. К.
Issue Date:	2020
Publisher:	Издательство Уральского университета
Citation:	Кузнецов Д. К. Методы современной сканирующей электронной микроскопии в исследовании материалов / Д. К. Кузнецов // XXIX зимняя Школа по химии твердого тела: материалы (Екатеринбург, 4-8 февраля 2020 г.). — Екатеринбург: Издательство Уральского университета, 2020. — С. 8-9.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/82577
Conference name:	XXIX зимняя Школа по химии твердого тела
Conference date:	04.02.2020-08.02.2020
ISBN:	978-5-7996-3002-7
metadata.dc.description.sponsorship:	Результаты исследований, представленных в докладе, получены с использованием оборудования УЦКП «Современные нанотехнологии» ИЕНиМ УрФУ.
Origin:	XXIX зимняя Школа по химии твердого тела. — Екатеринбург, 2020
Appears in Collections:	Конференции, семинары

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
978-5-7996-3002-7_2020_003.pdf		75,11 kB	Adobe PDF	View/Open