1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80817
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorChezganov, D. S.en
dc.contributor.authorVlasov, E. O.en
dc.contributor.authorGimadeeva, L. V.en
dc.contributor.authorGreshnyakov, E. D.en
dc.contributor.authorZelenovskiy, P. S.en
dc.contributor.authorUshakov, A. D.en
dc.contributor.authorNebogatikov, M. S.en
dc.contributor.authorHu, Q.en
dc.contributor.authorWei, X.en
dc.contributor.authorShur, V. Ya.en
dc.contributor.authorШур, В. Я.ru
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:47Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:47Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationElectron beam poling of [001]c-poled PMN-39PT single crystal / D. S. Chezganov, E. O. Vlasov, L. V. Gimadeeva, E. D. Greshnyakov, P. S. Zelenovskiy, A. D. Ushakov, M. S. Nebogatikov, Q. Hu, X. Wei, V. Ya. Shur // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 109-110.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80817-
dc.description.sponsorshipThe equipment of the Ural Center for Shared Use “Modern Nanotechnology” UrFU has been used. The research was made possible in part by Government of the Russian Federation (Act 211, Agreement 02.180 A03.21.0006) and RFBR (grant 17-52-80116-BRICS_a).en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleElectron beam poling of [001]c-poled PMN-39PT single crystalen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage109-
local.description.lastpage110-
local.description.orderP-19-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_078.pdf415,13 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика  Google Scholar





Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.