Electron-beam and AFM domain writing in the relaxor ferroelectric SBN

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80814

Название:	Electron-beam and AFM domain writing in the relaxor ferroelectric SBN
Авторы:	Bodnarchuk, Ya. V. Volk, T. R. Kochanchik, L. S. Gainutdinov, R. V. Ivleva, L. I.
Дата публикации:	2018
Издатель:	Ural Federal University
Библиографическое описание:	Electron-beam and AFM domain writing in the relaxor ferroelectric SBN / Ya. V. Bodnarchuk, T. R. Volk, L. S. Kochanchik, R. V. Gainutdinov, L. I. Ivleva // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 105-106.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/80814
Конференция/семинар:	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"
Дата конференции/семинара:	26.08.2018-29.08.2018
ISBN:	978-5-9500624-1-4
Сведения о поддержке:	This work was supported by the Russian Foundation for Basic Researches (projects Nos. 16-29-11777ofi-m and 16-0200439a).
Источники:	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-1-4_2018_075.pdf		488,14 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.