ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/80785| Название: | Polarization reversal in KTP single crystals with surface dielectric layer and at elevated temperatures |
| Авторы: | Akhmatkhanov, A. R. Vaskina, E. M. Chuvakova, M. A. Pelegova, E. V. Esin, A. A. Gachegova, E. Kolker, D. B. Shur, V. Ya. Шур, В. Я. |
| Дата публикации: | 2018 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Polarization reversal in KTP single crystals with surface dielectric layer and at elevated temperatures / A. R. Akhmatkhanov, E. M. Vaskina, M. A. Chuvakova, E. V. Pelegova, A. A. Esin, E. Gachegova, D. B. Kolker, V. Ya. Shur // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 69. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/80785 |
| Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials" |
| Дата конференции/семинара: | 26.08.2018-29.08.2018 |
| ISBN: | 978-5-9500624-1-4 |
| Сведения о поддержке: | The research was made possible in part by Government of the Russian Federation (Act 211, Agreement 02.A03.21.0006) by RFBR (grant 16-02-00724), and by President of Russian Federation grant for young scientists (Contract 14.Y30.17.2837-MK). The equipment of the Ural Center for Shared Use “Modern nanotechnology” Ural Federal University was used. |
| Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-1-4_2018_049.pdf | 161,32 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.