1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80745
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorYashina, N. Yu.en
dc.contributor.authorGavrikov, M. V.en
dc.contributor.authorAl-Alwani, A. J.en
dc.contributor.authorTsvetkova, O. Yu.en
dc.contributor.authorSevostyanov, V. P.en
dc.contributor.authorKabanov, V. F.en
dc.contributor.authorGlukhovskoy, E. G.en
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:32Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:32Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationInvestigation of the properties of quantum-dimensional semiconductor particles A3B5 by scanning probe microscopy, obtained by liquid chemical etching / N. Yu. Yashina, M. V. Gavrikov, A. J. Al-Alwani, O. Yu. Tsvetkova, V. P. Sevostyanov, V. F. Kabanov, E. G. Glukhovskoy // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 227-228.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80745-
dc.description.sponsorshipThe study was carried out with the financial support of the Russian Foundation for Basic Research in the framework of scientific projects 17-07-00407-а and 17-07-00139.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleInvestigation of the properties of quantum-dimensional semiconductor particles A3B5 by scanning probe microscopy, obtained by liquid chemical etchingen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage227-
local.description.lastpage228-
local.description.orderP-104-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_163.pdf163,77 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.