1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80740
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorVakulov, Z. E.en
dc.contributor.authorVarzarev, Y. N.en
dc.contributor.authorSkrylev , A. V.en
dc.contributor.authorPanich, A. E.en
dc.contributor.authorGolosov, D. A.en
dc.contributor.authorZavadskiy, S. M.en
dc.contributor.authorDostanko, A. P.en
dc.contributor.authorAgeev, O. A.en
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:31Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:31Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationEffect of thickness on the piezoelectric properties of LiNbO3 films / Z. E. Vakulov, Y. N. Varzarev, A. V. Skrylev , A. E. Panich, D. A. Golosov, S. M. Zavadskiy, A. P. Dostanko, O. A. Ageev // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 222-223.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80740-
dc.description.sponsorshipThe results were obtained using the equipment of Research and Education Center and the Center of collective use “Nanotechnology” of Southern Federal University.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleEffect of thickness on the piezoelectric properties of LiNbO3 filmsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage222-
local.description.lastpage223-
local.description.orderP-100-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_159.pdf257,85 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.