ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/80690| Название: | Fabrication process for producing silicon nanowire field effect transistors |
| Авторы: | Lukyanenko, A. V. Tarasov, A. S. Yakovlev, I. A. Zelenov, F. V. Smolyarova, T. E. Bondarev, I. A. Ovchinnikov, S. G. Volkov, N. V. |
| Дата публикации: | 2018 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Fabrication process for producing silicon nanowire field effect transistors / A. V. Lukyanenko, A. S. Tarasov, I. A. Yakovlev, F. V. Zelenov, T. E. Smolyarova, I. A. Bondarev, S. G. Ovchinnikov, N. V. Volkov // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 160. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/80690 |
| Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials" |
| Дата конференции/семинара: | 26.08.2018-29.08.2018 |
| ISBN: | 978-5-9500624-1-4 |
| Сведения о поддержке: | The work was supported by the Russian Foundation for Basic Research, Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Region Science and Technology Support Fund project no. 18-42-243022. This work is partially supported by the Ministry of Education and Science of the Russian Federation and by Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences (Project II.8.70) and Fundamental research program of the Presidium of the RAS no. 32 «Nanostructures: physics, chemistry, biology, basics of technologies». This work was supported by and carried out on the equipment of the Center for Common Use of the Krasnoyarsk Scientific Center, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences. |
| Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-1-4_2018_113.pdf | 230,1 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.