Novel technology for fabrication of probe tips for SPM using focused ion beam induced deposition method

Shandyba, N. A.; Panchenko, I. V.; Kolomiytsev, A. S.; Lisitsyn, S. A.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79125

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Shandyba, N. A.	en
dc.contributor.author	Panchenko, I. V.	en
dc.contributor.author	Kolomiytsev, A. S.	en
dc.contributor.author	Lisitsyn, S. A.	en
dc.date.accessioned	2019-12-19T12:26:14Z	-
dc.date.available	2019-12-19T12:26:14Z	-
dc.date.issued	2019	-
dc.identifier.citation	Shandyba N. A. Novel technology for fabrication of probe tips for SPM using focused ion beam induced deposition method / N. A. Shandyba, I. V. Panchenko, A. S. Kolomiytsev, S. A. Lisitsyn // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 254-255.	en
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-2-1	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/79125	-
dc.description.sponsorship	The work was done through a grant from the Russian Science Foundation (project No. 18-79-00175) using the equipment of the Research and Education Center and the Nanotechnology Joint Use Center of the Southern Federal University (Taganrog).	en
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	en	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation	info:eu-repo/grantAgreement/RSF//18-79-00175	en
dc.relation.ispartof	Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019	en
dc.title	Novel technology for fabrication of probe tips for SPM using focused ion beam induced deposition method	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"	en
dc.conference.date	25.08.2019-28.08.2019	-
local.description.firstpage	254	-
local.description.lastpage	255	-
local.fund.rsf	18-79-00175	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-2-1_2019_206.pdf		236,99 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.