ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/79072| Название: | Properties of the barium strontium titanate film on the silicon substrate |
| Авторы: | Batalov, R. I. Zharkov, D. K. Pavlov, D. P. Migachev, S. A. Lunev, I. V. Elshin, A. S. Leontyev, A. V. Chibirev, A. O. Shaposhnikova, T. S. Mamin, R. F. |
| Дата публикации: | 2019 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Properties of the barium strontium titanate film on the silicon substrate / R. I. Batalov, D. K. Zharkov, D. P. Pavlov, S. A. Migachev, I. V. Lunev, A. S. Elshin, A. V. Leontyev, A. O. Chibirev, T. S. Shaposhnikova, R. F. Mamin // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 197. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/79072 |
| Конференция/семинар: | 3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials" |
| Дата конференции/семинара: | 25.08.2019-28.08.2019 |
| ISBN: | 978-5-9500624-2-1 |
| Сведения о поддержке: | The reported study was supported of the Russian Foundation for Basic Research, research project No. 18-42-160005. The work is partially performed according to the Russian Government Program of Competitive Growth of Kazan Federal University. A.S. Elshin thanks the Russian Foundation for Basic Research for financial support, project No. 17-32-50047. |
| Источники: | Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-2-1_2019_159.pdf | 14,15 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.