1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79072
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorBatalov, R. I.en
dc.contributor.authorZharkov, D. K.en
dc.contributor.authorPavlov, D. P.en
dc.contributor.authorMigachev, S. A.en
dc.contributor.authorLunev, I. V.en
dc.contributor.authorElshin, A. S.en
dc.contributor.authorLeontyev, A. V.en
dc.contributor.authorChibirev, A. O.en
dc.contributor.authorShaposhnikova, T. S.en
dc.contributor.authorMamin, R. F.en
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:08Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:08Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationProperties of the barium strontium titanate film on the silicon substrate / R. I. Batalov, D. K. Zharkov, D. P. Pavlov, S. A. Migachev, I. V. Lunev, A. S. Elshin, A. V. Leontyev, A. O. Chibirev, T. S. Shaposhnikova, R. F. Mamin // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 197.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79072-
dc.description.sponsorshipThe reported study was supported of the Russian Foundation for Basic Research, research project No. 18-42-160005. The work is partially performed according to the Russian Government Program of Competitive Growth of Kazan Federal University. A.S. Elshin thanks the Russian Foundation for Basic Research for financial support, project No. 17-32-50047.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titleProperties of the barium strontium titanate film on the silicon substrateen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage197-
local.description.lastpage197-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_159.pdf14,15 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.