Conductive Atomic Force Microscopy study of local resistive switching by a complex signal in the yttria stabilized zirconia films

Filatov, D. O.; Koryazhkina, M. N.; Antonov, D. A.; Antonov, I. N.; Liskin, D. A.; Ryabova, M. A.; Gorshkov, O. N.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79054

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Filatov, D. O.	en
dc.contributor.author	Koryazhkina, M. N.	en
dc.contributor.author	Antonov, D. A.	en
dc.contributor.author	Antonov, I. N.	en
dc.contributor.author	Liskin, D. A.	en
dc.contributor.author	Ryabova, M. A.	en
dc.contributor.author	Gorshkov, O. N.	en
dc.date.accessioned	2019-12-19T12:26:06Z	-
dc.date.available	2019-12-19T12:26:06Z	-
dc.date.issued	2019	-
dc.identifier.citation	Conductive Atomic Force Microscopy study of local resistive switching by a complex signal in the yttria stabilized zirconia films / D. O. Filatov, M. N. Koryazhkina, D. A. Antonov, I. N. Antonov, D. A. Liskin, M. A. Ryabova, O. N. Gorshkov // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 177-178.	en
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-2-1	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/79054	-
dc.description.sponsorship	This work was supported by RFBR (18-42-520059р_а).	en
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	en	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation.ispartof	Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019	en
dc.title	Conductive Atomic Force Microscopy study of local resistive switching by a complex signal in the yttria stabilized zirconia films	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"	en
dc.conference.date	25.08.2019-28.08.2019	-
local.description.firstpage	177	-
local.description.lastpage	178	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-2-1_2019_142.pdf		723,01 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.