ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/79034| Название: | Low temperature resistive elements integrated into superconductive NbN nanowires produced under ion beam irradiation |
| Авторы: | Gurovich, B. A. Goncharov, B. V. Kutuzov, L. V. Prihodko, K. E. Komarov, D. A. Domantovsky, A. G. Dementeva, M. M. |
| Дата публикации: | 2019 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Low temperature resistive elements integrated into superconductive NbN nanowires produced under ion beam irradiation / B. A. Gurovich, B. V. Goncharov, L. V. Kutuzov, K. E. Prihodko, D. A. Komarov, A. G. Domantovsky, M. M. Dementeva // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 156. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/79034 |
| Конференция/семинар: | 3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials" |
| Дата конференции/семинара: | 25.08.2019-28.08.2019 |
| ISBN: | 978-5-9500624-2-1 |
| Сведения о поддержке: | The work was supported by the NRC “Kurchatov Institute” (№1639). |
| Источники: | Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-2-1_2019_124.pdf | 281,54 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.