1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/72307
Название: Characterization of vacancy defects in Cu(In,Ga)Se-2 by positron annihilation spectroscopy
Авторы: Elsharkawy, M. R. M.
Kanda, G. S.
Yakushev, M. V.
Abdel-Hady, E. E.
Keeble, D. J.
Якушев, М. В.
Дата публикации: 2016
Библиографическое описание: Characterization of vacancy defects in Cu(In,Ga)Se-2 by positron annihilation spectroscopy / M. R. M. Elsharkawy, G. S. Kanda, M. V. Yakushev [et al.] // AIP Advances. — 2016. — Vol. 6. — № 12. — 125031. — DOI: 10.1063/1.4972251.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/72307
Идентификатор SCOPUS: 85006743974
Идентификатор WOS: 000392091500054
Идентификатор PURE: 1381833
DOI: 10.1063/1.4972251
Располагается в коллекциях:Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
10.1063-1.4972251.pdf1,6 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Статистика


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.