Please use this identifier to cite or link to this item:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/68556
Title: | Способ контроля параметров оптического волноводного слоя |
Other Titles: | METHOD OF CHECKING PARAMETERS OF OPTICAL WAVEGUIDE LAYER |
Patent Number: | 2062464 |
Authors: | Зацепин, А. Ф. Кортов, В. С. Никоноров, Н. В. Тюков, В. В. Zatsepin, A. F. Kortov, V. S. Nikonorov, N. V. Tjukov, V. V. |
Issue Date: | 1996 |
Abstract: | FIELD: microelectronics; integral optics. SUBSTANCE: waveguides mode are excited in optical waveguide layer due to illumination of layer by coherent radiation beam. Energy of quanta of the beam is lower than stationary photoeffect threshold. Parameters of waveguide layer are checked according to value of current of non-stationary exoelectron emission excited inside layer under control by natural radiation of waveguide. EFFECT: improved reliability. 1 dwg. Использование: исследование электрофизических свойств поверхности эмиссионными методами, контроль качества элементов интегральной оптики и микроэлектроники. Сущность изобретения: в способе контроля параметров оптического волноводного слоя возбуждают в нем волноводные моды путем освещения слоя пучком когерентного излучения с энергией квантов ниже порога стационарного фотоэффекта. Контроль параметров волноводного слоя осуществляют по величине тока нестационарной экзоэлектронной эмиссии, возбуждаемой внутри контролируемого слоя собственным излучением волновода. |
Keywords: | PATENT INVENTION ПАТЕНТ ИЗОБРЕТЕНИЕ |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/68556 |
RSCI ID: | 38039946 |
Patent Type: | Патент на изобретение |
Patent Owner: | УРАЛЬСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ |
Appears in Collections: | Патенты и изобретения |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
2062464.pdf | 149,04 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.