Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/68556
Название: Способ контроля параметров оптического волноводного слоя
Другие названия: METHOD OF CHECKING PARAMETERS OF OPTICAL WAVEGUIDE LAYER
Номер патента: 2062464
Авторы: Зацепин, А. Ф.
Кортов, В. С.
Никоноров, Н. В.
Тюков, В. В.
Zatsepin, A. F.
Kortov, V. S.
Nikonorov, N. V.
Tjukov, V. V.
Дата публикации: 1996
Аннотация: FIELD: microelectronics; integral optics. SUBSTANCE: waveguides mode are excited in optical waveguide layer due to illumination of layer by coherent radiation beam. Energy of quanta of the beam is lower than stationary photoeffect threshold. Parameters of waveguide layer are checked according to value of current of non-stationary exoelectron emission excited inside layer under control by natural radiation of waveguide. EFFECT: improved reliability. 1 dwg.
Использование: исследование электрофизических свойств поверхности эмиссионными методами, контроль качества элементов интегральной оптики и микроэлектроники. Сущность изобретения: в способе контроля параметров оптического волноводного слоя возбуждают в нем волноводные моды путем освещения слоя пучком когерентного излучения с энергией квантов ниже порога стационарного фотоэффекта. Контроль параметров волноводного слоя осуществляют по величине тока нестационарной экзоэлектронной эмиссии, возбуждаемой внутри контролируемого слоя собственным излучением волновода.
Ключевые слова: PATENT
INVENTION
ПАТЕНТ
ИЗОБРЕТЕНИЕ
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/68556
Идентификатор РИНЦ: 38039946
Вид РИД: Патент на изобретение
Патентообладатель: УРАЛЬСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ
Располагается в коллекциях:Патенты и изобретения

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
2062464.pdf149,04 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.