Применение радиоволновых, вихретоковых и атомно-силовых методов контроля для анализа работы интегральных микросхем

Дворянцев, С. А.; Яумбаев, В. М.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/65591

Title:	Применение радиоволновых, вихретоковых и атомно-силовых методов контроля для анализа работы интегральных микросхем
Authors:	Дворянцев, С. А. Яумбаев, В. М.
metadata.dc.contributor.advisor:	Костромитин, К. И.
Issue Date:	2018
Publisher:	Издательство Уральского университета
Citation:	Дворянцев С. А. Применение радиоволновых, вихретоковых и атомно-силовых методов контроля для анализа работы интегральных микросхем / С. А. Дворянцев, В. М. Яумбаев // Безопасность информационного пространства — 2017 : XVI Всероссийская научно-практическая конференция студентов, аспирантов, молодых ученых. Екатеринбург, 12 декабря 2017 года. — Екатеринбург : Изд-во Урал. ун-та, 2018. — С. 86-89.
Abstract:	Представлено описание и характеристики радиоволновых, вихретоковых и атомно-силовых методов контроля, применяемых для анализа работы интегральных микросхем. Актуальность применения радиоволновых и вихретоковых методов контроля обусловлена возможностью проведения проверок на наличие сторонних включений в состав интегральных микросхем, метод атомно-силовой микроскопии позволяет исследовать поверхность интегральной микросхемы с атомной точностью, что может быть применено для обеспечения аппаратной защиты информации в вычислительных системах.
Keywords:	РАДИОВОЛНОВЫЙ МЕТОД КОНТРОЛЯ ВИХРЕТОКОВОЙ МЕТОД КОНТРОЛЯ АТОМНО-СИЛОВОЙ МЕТОД КОНТРОЛЯ
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/65591
Conference name:	ХVI Всероссийская научно-практическая конференция студентов, аспирантов и молодых ученых «Безопасность информационного пространства — 2017»
Conference date:	12.12.2017
RSCI ID:	https://elibrary.ru/item.asp?id=36840695
ISBN:	978-5-7996-2404-0
Origin:	Безопасность информационного пространства — 2017. — Екатеринбург, 2018
Appears in Collections:	Конференции, семинары

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
978-5-7996-2404-0_2018-28.pdf		2,17 MB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record