Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/65591
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.advisor | Костромитин, К. И. | ru |
dc.contributor.author | Дворянцев, С. А. | ru |
dc.contributor.author | Яумбаев, В. М. | ru |
dc.date.accessioned | 2018-12-18T15:40:50Z | - |
dc.date.available | 2018-12-18T15:40:50Z | - |
dc.date.issued | 2018 | - |
dc.identifier.citation | Дворянцев С. А. Применение радиоволновых, вихретоковых и атомно-силовых методов контроля для анализа работы интегральных микросхем / С. А. Дворянцев, В. М. Яумбаев // Безопасность информационного пространства — 2017 : XVI Всероссийская научно-практическая конференция студентов, аспирантов, молодых ученых. Екатеринбург, 12 декабря 2017 года. — Екатеринбург : Изд-во Урал. ун-та, 2018. — С. 86-89. | ru |
dc.identifier.isbn | 978-5-7996-2404-0 | - |
dc.identifier.uri | http://elar.urfu.ru/handle/10995/65591 | - |
dc.description.abstract | Представлено описание и характеристики радиоволновых, вихретоковых и атомно-силовых методов контроля, применяемых для анализа работы интегральных микросхем. Актуальность применения радиоволновых и вихретоковых методов контроля обусловлена возможностью проведения проверок на наличие сторонних включений в состав интегральных микросхем, метод атомно-силовой микроскопии позволяет исследовать поверхность интегральной микросхемы с атомной точностью, что может быть применено для обеспечения аппаратной защиты информации в вычислительных системах. | ru |
dc.format.mimetype | application/pdf | en |
dc.language.iso | ru | en |
dc.publisher | Издательство Уральского университета | ru |
dc.relation.ispartof | Безопасность информационного пространства — 2017. — Екатеринбург, 2018 | ru |
dc.subject | РАДИОВОЛНОВЫЙ МЕТОД КОНТРОЛЯ | ru |
dc.subject | ВИХРЕТОКОВОЙ МЕТОД КОНТРОЛЯ | ru |
dc.subject | АТОМНО-СИЛОВОЙ МЕТОД КОНТРОЛЯ | ru |
dc.title | Применение радиоволновых, вихретоковых и атомно-силовых методов контроля для анализа работы интегральных микросхем | ru |
dc.type | Conference Paper | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
dc.conference.name | ХVI Всероссийская научно-практическая конференция студентов, аспирантов и молодых ученых «Безопасность информационного пространства — 2017» | ru |
dc.conference.date | 12.12.2017 | - |
dc.identifier.rsi | https://elibrary.ru/item.asp?id=36840695 | - |
local.description.firstpage | 86 | - |
local.description.lastpage | 89 | - |
Располагается в коллекциях: | Конференции, семинары |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
978-5-7996-2404-0_2018-28.pdf | 2,17 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.