Метрологическое обеспечение испытательного оборудования аналитических лабораторий с использованием прямых и косвенных методов оценки нормируемых точностных характеристик

Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/58886

Title:	Метрологическое обеспечение испытательного оборудования аналитических лабораторий с использованием прямых и косвенных методов оценки нормируемых точностных характеристик
Authors:	Ёлтышев, В. П. Тетюрев, А. С.
Issue Date:	2005
Publisher:	Уральский государственный технический университет
Citation:	Ёлтышев В. П. Метрологическое обеспечение испытательного оборудования аналитических лабораторий с использованием прямых и косвенных методов оценки нормируемых точностных характеристик / В. П. Ёлтышев, А. С. Тетюрев // Аналитика и контроль. — 2005. — № 3. — С. 280-284.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/58886
Origin:	Аналитика и контроль. 2005. № 3
Appears in Collections:	Аналитика и контроль

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
aik-2005-03-11.pdf		1,22 MB	Adobe PDF	View/Open