ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/58886Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Ёлтышев, В. П. | ru |
| dc.contributor.author | Тетюрев, А. С. | ru |
| dc.date.accessioned | 2018-05-06T09:14:36Z | - |
| dc.date.available | 2018-05-06T09:14:36Z | - |
| dc.date.issued | 2005 | - |
| dc.identifier.citation | Ёлтышев В. П. Метрологическое обеспечение испытательного оборудования аналитических лабораторий с использованием прямых и косвенных методов оценки нормируемых точностных характеристик / В. П. Ёлтышев, А. С. Тетюрев // Аналитика и контроль. — 2005. — № 3. — С. 280-284. | ru |
| dc.identifier.uri | http://elar.urfu.ru/handle/10995/58886 | - |
| dc.format.mimetype | application/pdf | en |
| dc.language.iso | ru | en |
| dc.publisher | Уральский государственный технический университет | ru |
| dc.relation.ispartof | Аналитика и контроль. 2005. № 3 | ru |
| dc.title | Метрологическое обеспечение испытательного оборудования аналитических лабораторий с использованием прямых и косвенных методов оценки нормируемых точностных характеристик | ru |
| dc.type | Article | en |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/article | en |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
| local.description.firstpage | 280 | - |
| local.description.lastpage | 284 | - |
| Располагается в коллекциях: | Аналитика и контроль | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| aik-2005-03-11.pdf | 1,22 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.