ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/58886| Название: | Метрологическое обеспечение испытательного оборудования аналитических лабораторий с использованием прямых и косвенных методов оценки нормируемых точностных характеристик |
| Авторы: | Ёлтышев, В. П. Тетюрев, А. С. |
| Дата публикации: | 2005 |
| Издатель: | Уральский государственный технический университет |
| Библиографическое описание: | Ёлтышев В. П. Метрологическое обеспечение испытательного оборудования аналитических лабораторий с использованием прямых и косвенных методов оценки нормируемых точностных характеристик / В. П. Ёлтышев, А. С. Тетюрев // Аналитика и контроль. — 2005. — № 3. — С. 280-284. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/58886 |
| Источники: | Аналитика и контроль. 2005. № 3 |
| Располагается в коллекциях: | Аналитика и контроль |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| aik-2005-03-11.pdf | 1,22 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.