Введение образцов в индуктивно связанную плазму для спектрометрического анализа

Суриков, В. Т.; Пупышев, А. А.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/58125

Title:	Введение образцов в индуктивно связанную плазму для спектрометрического анализа
Authors:	Суриков, В. Т. Пупышев, А. А.
Issue Date:	2006
Publisher:	Уральский государственный технический унивеситет
Citation:	Суриков В. Т. Введение образцов в индуктивно связанную плазму для спектрометрического анализа / В. Т. Суриков, А. А. Пупышев // Аналитика и контроль. — 2006. — № 2. — С. 112-125.
Abstract:	Сформулированы требования к системам введения образцов различного агрегатного состояния в индуктивно связанную плазму для атомно-эмиссионного и масс-спектрометрического анализа. Систематизированы и кратко охарактеризованы применяемые для этого способы, выделены главные процессы. The basic requirements imposed to introduction systems for analysis of of samples in different aggregative state by inductively coupled plasma mass-spectrometry and inductively coupled plasma atomic-emission spectrometry are formulated. Used methods in this case are systematized and briefly characterized, main processes are outlined.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/58125
Origin:	Аналитика и контроль. 2006. № 2
Appears in Collections:	Аналитика и контроль

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
aik-2006-02-03.pdf		2,69 MB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record