Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/58125
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorСуриков, В. Т.ru
dc.contributor.authorПупышев, А. А.ru
dc.date.accessioned2018-04-05T06:36:29Z-
dc.date.available2018-04-05T06:36:29Z-
dc.date.issued2006-
dc.identifier.citationСуриков В. Т. Введение образцов в индуктивно связанную плазму для спектрометрического анализа / В. Т. Суриков, А. А. Пупышев // Аналитика и контроль. — 2006. — № 2. — С. 112-125.ru
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/58125-
dc.description.abstractСформулированы требования к системам введения образцов различного агрегатного состояния в индуктивно связанную плазму для атомно-эмиссионного и масс-спектрометрического анализа. Систематизированы и кратко охарактеризованы применяемые для этого способы, выделены главные процессы.ru
dc.description.abstractThe basic requirements imposed to introduction systems for analysis of of samples in different aggregative state by inductively coupled plasma mass-spectrometry and inductively coupled plasma atomic-emission spectrometry are formulated. Used methods in this case are systematized and briefly characterized, main processes are outlined.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherУральский государственный технический унивеситетru
dc.relation.ispartofАналитика и контроль. 2006. № 2ru
dc.titleВведение образцов в индуктивно связанную плазму для спектрометрического анализаru
dc.typeArticleen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articleen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
local.description.firstpage112-
local.description.lastpage125-
Располагается в коллекциях:Аналитика и контроль

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
aik-2006-02-03.pdf2,69 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.