Оптическая спектрометрия с тлеющим разрядом (GD-OES) в анализе покрытий

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/56859

Title:	Оптическая спектрометрия с тлеющим разрядом (GD-OES) в анализе покрытий
Authors:	Вейс, З.
Issue Date:	2000
Publisher:	Уральский государственный технический университет
Citation:	Вейс З. Оптическая спектрометрия с тлеющим разрядом (GD-OES) в анализе покрытий / З. Вейс // Аналитика и контроль. — 2000. — № 3. — С. 232-243.
Abstract:	Коротко рассмотрены принципы и методология оптической эмиссионной спектрометрии с тлеющим разрядом (GD-OES). На некоторых примерах, включая послойный анализ покрытий из цинка, цинковых сплавов и азотированной стали, показаны аналитические возможности метода.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/56859
Origin:	Аналитика и контроль. 2000. № 3
Appears in Collections:	Аналитика и контроль

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
aik-2000-03-03.pdf		4,86 MB	Adobe PDF	View/Open