Оптическая спектрометрия с тлеющим разрядом (GD-OES) в анализе покрытий

Вейс, З.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/56859

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Вейс, З.	ru
dc.date.accessioned	2018-02-26T04:17:27Z	-
dc.date.available	2018-02-26T04:17:27Z	-
dc.date.issued	2000	-
dc.identifier.citation	Вейс З. Оптическая спектрометрия с тлеющим разрядом (GD-OES) в анализе покрытий / З. Вейс // Аналитика и контроль. — 2000. — № 3. — С. 232-243.	ru
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/56859	-
dc.description.abstract	Коротко рассмотрены принципы и методология оптической эмиссионной спектрометрии с тлеющим разрядом (GD-OES). На некоторых примерах, включая послойный анализ покрытий из цинка, цинковых сплавов и азотированной стали, показаны аналитические возможности метода.	ru
dc.format.mimetype	applcation/pdf	en
dc.language.iso	ru	en
dc.publisher	Уральский государственный технический университет	ru
dc.relation.ispartof	Аналитика и контроль. 2000. № 3	ru
dc.title	Оптическая спектрометрия с тлеющим разрядом (GD-OES) в анализе покрытий	ru
dc.type	Article	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/article	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
local.description.firstpage	232	-
local.description.lastpage	243	-
Располагается в коллекциях:	Аналитика и контроль

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
aik-2000-03-03.pdf		4,86 MB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.