Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/40463
Название: Определение химического состава и толщины гальванических покрытий методом атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока : диссертация на соискание ученой степени кандидата химических наук : 02.00.02
Авторы: Чичерская, А. Л.
Научный руководитель: Пупышев, А. А.
Дата публикации: 2016
Библиографическое описание: Чичерская А. Л. Определение химического состава и толщины гальванических покрытий методом атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока : диссертация на соискание ученой степени кандидата химических наук : 02.00.02 / А. Л. Чичерская ; [Место защиты: Уральский федеральный университет им. первого Президента России Б.Н. Ельцина]. — Екатеринбург, 2016. — 148 с. : ил. — Библиогр.: с. 111-126 (138 назв.).
Ключевые слова: ДИССЕРТАЦИИ
АНАЛИТИЧЕСКАЯ ХИМИЯ
Код специальности ВАК: 02.00.02
Специальность: Аналитическая химия
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/40463
Условия доступа: Предоставлено автором на условиях простой неисключительной лицензии
Текст лицензии: http://elar.urfu.ru/handle/10995/31613
Располагается в коллекциях:Авторефераты и диссертации

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
urfu1573_d.pdf6,36 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.