Определение химического состава и толщины гальванических покрытий методом атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока : диссертация на соискание ученой степени кандидата химических наук : 02.00.02

Чичерская, А. Л.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/40463

Title:	Определение химического состава и толщины гальванических покрытий методом атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока : диссертация на соискание ученой степени кандидата химических наук : 02.00.02
Authors:	Чичерская, А. Л.
metadata.dc.contributor.advisor:	Пупышев, А. А.
Issue Date:	2016
Citation:	Чичерская А. Л. Определение химического состава и толщины гальванических покрытий методом атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока : диссертация на соискание ученой степени кандидата химических наук : 02.00.02 / А. Л. Чичерская ; [Место защиты: Уральский федеральный университет им. первого Президента России Б.Н. Ельцина]. — Екатеринбург, 2016. — 148 с. : ил. — Библиогр.: с. 111-126 (138 назв.).
Keywords:	ДИССЕРТАЦИИ АНАЛИТИЧЕСКАЯ ХИМИЯ
OKSVNK:	02.00.02
Thesis discipline:	Аналитическая химия
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/40463
Access:	Предоставлено автором на условиях простой неисключительной лицензии
License text:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/31613
Appears in Collections:	Авторефераты и диссертации

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
urfu1573_d.pdf		6,36 MB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record