ISSN: 2310-757X
Please use this identifier to cite or link to this item:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/124907| Title: | Оценка надёжности мемристорных структур на основе нанотубулярного диоксида циркония |
| Other Titles: | The Reliability Estimation for Memristor Structures Based on Nanotubular Zirconia |
| Authors: | Petrenyov, I. A. Vokhmintsev, A. S. Kamalov, R. V. Weinstein, I. A. Петренёв, И. А. Вохминцев, А. С. Камалов, Р. В. Вайнштейн, И. А. |
| Issue Date: | 2022 |
| Publisher: | УрФУ |
| Citation: | Оценка надёжности мемристорных структур на основе нанотубулярного диоксида циркония / И. А. Петренёв, А. С. Вохминцев, Р. В. Камалов, И. А. Вайнштейн. — Текст: электронный // Физика. Технологии. Инновации. ФТИ-2022 : тезисы докладов IX Международной молодежной научной конференции, посвященной 100-летию со дня рождения профессора С. П. Распопина, Екатеринбург, 16-20 мая 2022 г. — Екатеринбург: УрФУ, 2022. — С. 297-298. — URL: http://elar.urfu.ru/handle/10995/124907. |
| Abstract: | Reliability of memristors based on nanotubular zirconia was studied. The endurance is estimated to be > 113 thousand cycles as well as the resistance ratio is > 3000. The devices are able to remain stable for > 9 days in high and low resistance states at room temperature. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/124907 |
| Conference name: | IX Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященная 100-летию со дня рождения профессора С. П. Распопина ФТИ-2022 |
| Conference date: | 16.05.2022-20.05.2022 |
| Sponsorship: | Исследование выполнено в рамках инициативного научного проекта FEUZ-2020-0059 Минобрнауки РФ. |
| Origin: | Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2022). — Екатеринбург, 2022 |
| Appears in Collections: | Конференции, семинары |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| fti_2022_9_120.pdf | 268,46 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.