Оценка надёжности мемристорных структур на основе нанотубулярного диоксида циркония

Petrenyov, I. A.; Vokhmintsev, A. S.; Kamalov, R. V.; Weinstein, I. A.; Петренёв, И. А.; Вохминцев, А. С.; Камалов, Р. В.; Вайнштейн, И. А.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/124907

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Petrenyov, I. A.	en
dc.contributor.author	Vokhmintsev, A. S.	en
dc.contributor.author	Kamalov, R. V.	en
dc.contributor.author	Weinstein, I. A.	en
dc.contributor.author	Петренёв, И. А.	ru
dc.contributor.author	Вохминцев, А. С.	ru
dc.contributor.author	Камалов, Р. В.	ru
dc.contributor.author	Вайнштейн, И. А.	ru
dc.date.accessioned	2023-08-31T10:00:45Z	-
dc.date.available	2023-08-31T10:00:45Z	-
dc.date.issued	2022	-
dc.identifier.citation	Оценка надёжности мемристорных структур на основе нанотубулярного диоксида циркония / И. А. Петренёв, А. С. Вохминцев, Р. В. Камалов, И. А. Вайнштейн. — Текст: электронный // Физика. Технологии. Инновации. ФТИ-2022 : тезисы докладов IX Международной молодежной научной конференции, посвященной 100-летию со дня рождения профессора С. П. Распопина, Екатеринбург, 16-20 мая 2022 г. — Екатеринбург: УрФУ, 2022. — С. 297-298. — URL: http://elar.urfu.ru/handle/10995/124907.	ru
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/124907	-
dc.description.abstract	Reliability of memristors based on nanotubular zirconia was studied. The endurance is estimated to be > 113 thousand cycles as well as the resistance ratio is > 3000. The devices are able to remain stable for > 9 days in high and low resistance states at room temperature.	en
dc.description.sponsorship	Исследование выполнено в рамках инициативного научного проекта FEUZ-2020-0059 Минобрнауки РФ.	ru
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	ru	-
dc.publisher	УрФУ	ru
dc.relation.ispartof	Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2022). — Екатеринбург, 2022	ru
dc.title	Оценка надёжности мемристорных структур на основе нанотубулярного диоксида циркония	ru
dc.title.alternative	The Reliability Estimation for Memristor Structures Based on Nanotubular Zirconia	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/submittedVersion	en
dc.conference.name	IX Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященная 100-летию со дня рождения профессора С. П. Распопина	ru
dc.conference.name	ФТИ-2022	ru
dc.conference.date	16.05.2022-20.05.2022	-
local.contributor.employee	Петренёв, И. А.	ru
local.contributor.employee	Вохминцев, А. С.	ru
local.contributor.employee	Камалов, Р. В.	ru
local.contributor.employee	Вайнштейн, И. А.	ru
local.description.firstpage	297	-
local.description.lastpage	298	-
Располагается в коллекциях:	Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
fti_2022_9_120.pdf		268,46 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.