Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/106620
Название: LUMINESCENCE OF RADIATION DEFECTS IN Bi IMPLANTED SILICA GLASS
Авторы: Koubisy, M. S. I.
Zatsepin, A. F.
Shtang, T. V.
Biryukov, D. Yu.
Gavrilov, N. V.
Mamonov, A. P.
Дата публикации: 2020
Издатель: УрФУ
Библиографическое описание: LUMINESCENCE OF RADIATION DEFECTS IN Bi IMPLANTED SILICA GLASS / M. S. I. Koubisy, A. F. Zatsepin, T. V. Shtang et al. // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов VII Международной молодежной научной конференции, посвященной 100-летию Уральского федерального университета (Екатеринбург, 18–22 мая 2020 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2020. — C. 220-221.
Аннотация: The photoluminescence of silica glass with implanted Bi ions is investigated by lumines-cence spectrometer PerkinElmer LS 55. The goal of the work was to study the optically active defects arising during the implantation process Bi ions in silica glass KUVI.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/106620
Конференция/семинар: VII Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященная 100-летию Уральского федерального университета
Дата конференции/семинара: 18.05.2020-22.05.2020
Источники: Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2020)
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
fti_2020_101.pdf310,91 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.