ISSN: 2310-757X
Please use this identifier to cite or link to this item:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/106620| Title: | LUMINESCENCE OF RADIATION DEFECTS IN Bi IMPLANTED SILICA GLASS |
| Authors: | Koubisy, M. S. I. Zatsepin, A. F. Shtang, T. V. Biryukov, D. Yu. Gavrilov, N. V. Mamonov, A. P. |
| Issue Date: | 2020 |
| Publisher: | УрФУ |
| Citation: | LUMINESCENCE OF RADIATION DEFECTS IN Bi IMPLANTED SILICA GLASS / M. S. I. Koubisy, A. F. Zatsepin, T. V. Shtang et al. // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов VII Международной молодежной научной конференции, посвященной 100-летию Уральского федерального университета (Екатеринбург, 18–22 мая 2020 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2020. — C. 220-221. |
| Abstract: | The photoluminescence of silica glass with implanted Bi ions is investigated by lumines-cence spectrometer PerkinElmer LS 55. The goal of the work was to study the optically active defects arising during the implantation process Bi ions in silica glass KUVI. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/106620 |
| Conference name: | VII Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященная 100-летию Уральского федерального университета |
| Conference date: | 18.05.2020-22.05.2020 |
| Origin: | Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2020) |
| Appears in Collections: | Конференции, семинары |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| fti_2020_101.pdf | 310,91 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.