Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/106620
Название: | LUMINESCENCE OF RADIATION DEFECTS IN Bi IMPLANTED SILICA GLASS |
Авторы: | Koubisy, M. S. I. Zatsepin, A. F. Shtang, T. V. Biryukov, D. Yu. Gavrilov, N. V. Mamonov, A. P. |
Дата публикации: | 2020 |
Издатель: | УрФУ |
Библиографическое описание: | LUMINESCENCE OF RADIATION DEFECTS IN Bi IMPLANTED SILICA GLASS / M. S. I. Koubisy, A. F. Zatsepin, T. V. Shtang et al. // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов VII Международной молодежной научной конференции, посвященной 100-летию Уральского федерального университета (Екатеринбург, 18–22 мая 2020 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2020. — C. 220-221. |
Аннотация: | The photoluminescence of silica glass with implanted Bi ions is investigated by lumines-cence spectrometer PerkinElmer LS 55. The goal of the work was to study the optically active defects arising during the implantation process Bi ions in silica glass KUVI. |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/106620 |
Конференция/семинар: | VII Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященная 100-летию Уральского федерального университета |
Дата конференции/семинара: | 18.05.2020-22.05.2020 |
Источники: | Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2020) |
Располагается в коллекциях: | Конференции, семинары |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
fti_2020_101.pdf | 310,91 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.