ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elar.urfu.ru/handle/10995/104203| Название: | Генерация электрических колебаний в контакте АСМ зонда с индивидуальной наночастицей Au в плѐнке SiO2/Si |
| Другие названия: | The generation of the electrical oscillations in a contact of an AFM probe with an individual Au nanoparticle in a SiO2/Si film |
| Авторы: | Филатов, Д. О. Горшков, О. Н. Антонов, Д. А. Шенина, М. Е. Синуткин, Д. Ю. Зенкевич, А. В. Матвеев, Ю. А. Filatov, D. O. Gorshkov, O. N. Antonov, D. A. Shenina, M. E. Sinutkin, D. Yu. Zenkevich, A. V. Matveev, Yu. A. |
| Дата публикации: | 2017 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Генерация электрических колебаний в контакте АСМ зонда с индивидуальной наночастицей Au в плѐнке SiO2/Si / Д. О. Филатов, О. Н. Горшков, Д. А. Антонов и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 161 p. |
| Аннотация: | Сообщается о наблюдении электрических колебаний в колебательном контуре, включѐнном в цепь контакта АСМ зонда к туннельно-прозрачной (толщиной ~5 нм) плѐнке SiO2/Si с наночастицами (НЧ) u. Эффект связан с резонансным туннелированием через размерно-квантованные состояния в малых (~1 нм) НЧ u. The electrical oscillations in an oscillating loop connected to an AFM probe contact to a tunnel-transparent (~5 nm thick) SiO2/Si film with Au nanoparticles (NPs) have been observed. The effect was attributed to the resonant tunneling via the quantum confined states in small (~1 nm) Au NPs. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104203 |
| Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" |
| Дата конференции/семинара: | 27.08.2017-30.08.2017 |
| ISBN: | 978-5-9500624-0-7 |
| Сведения о поддержке: | Работа выполнена при поддержке Минобрнауки РФ (16.7864.2017/БЧ). |
| Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-0-7_2017_093.pdf | 378,35 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.