Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104184
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorПанова, М. А.ru
dc.contributor.authorОсипова, Н. A.ru
dc.contributor.authorPanova, М. А.en
dc.contributor.authorOsipova, N. A.en
dc.date.accessioned2021-09-20T13:51:42Z-
dc.date.available2021-09-20T13:51:42Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationПанова М. А. Измерение шероховатости поверхности текстурированного валка из высокохромистой стали методом АСМ / М. А. Панова, Н. A. Осипова // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 129 p.ru
dc.identifier.isbn978-5-9500624-0-7-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/104184-
dc.description.abstractВ работе исследована поверхность текстурированного валка из высокохромистой стали методом АСМ, вследствие чего была определена шероховатость образца. Работа выполнена с помощью прибора NanoEducator, разрешающая способность которого составляет несколько ангстрем.ru
dc.description.abstractIn this paper, the surface of a textured roll of high chromium steel by the AFM method was investigated, as a result of which the roughness of the sample was determined. The work perfomed by the NanoEducator, whose resolving power is several angstroms.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017ru
dc.titleИзмерение шероховатости поверхности текстурированного валка из высокохромистой стали методом АСМru
dc.title.alternativeMeasuring the roughness of the surface of a textured roll of high chromium steel by the AFM methoden
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"en
dc.conference.date27.08.2017-30.08.2017-
local.description.firstpage129-
local.description.lastpage130-
local.description.orderP-13-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_076.pdf308,51 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.