ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/104183| Название: | Измерение микротвердости методом атомно-силовой микроскопии |
| Другие названия: | Study of microhardness by atomic force microscopy |
| Авторы: | Зайцев, А. А. Осипова, Н. А. Вахрамеев, П. С. Zaitsev, A. A. Osipova, N. A. Vakhrameev, P. S. |
| Дата публикации: | 2017 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Зайцев А. А. Измерение микротвердости методом атомно-силовой микроскопии / А. А. Зайцев, Н. А. Осипова, П. С. Вахрамеев // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 127 p. |
| Аннотация: | В работе рассматривается измерение микротвердости алюминия. Сравнивается метод атомно-силовой микроскопии при помощи микроскопа NanoEducator и метод оптической микроскопии с помощью прибора ПМТ 3. Metal microhardness measurements is considered by various methods in this work. The method of atomic force microscopy using a microscope NanoEducator vs. the method of optical microscopy using the PMT 3 were compared. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104183 |
| Конференция/семинар: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" |
| Дата конференции/семинара: | 27.08.2017-30.08.2017 |
| ISBN: | 978-5-9500624-0-7 |
| Источники: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-0-7_2017_075.pdf | 281,84 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.