Измерение микротвердости методом атомно-силовой микроскопии

Зайцев, А. А.; Осипова, Н. А.; Вахрамеев, П. С.; Zaitsev, A. A.; Osipova, N. A.; Vakhrameev, P. S.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104183

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Зайцев, А. А.	ru
dc.contributor.author	Осипова, Н. А.	ru
dc.contributor.author	Вахрамеев, П. С.	ru
dc.contributor.author	Zaitsev, A. A.	en
dc.contributor.author	Osipova, N. A.	en
dc.contributor.author	Vakhrameev, P. S.	en
dc.date.accessioned	2021-09-20T13:51:42Z	-
dc.date.available	2021-09-20T13:51:42Z	-
dc.date.issued	2017	-
dc.identifier.citation	Зайцев А. А. Измерение микротвердости методом атомно-силовой микроскопии / А. А. Зайцев, Н. А. Осипова, П. С. Вахрамеев // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 127 p.	ru
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-0-7	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/104183	-
dc.description.abstract	В работе рассматривается измерение микротвердости алюминия. Сравнивается метод атомно-силовой микроскопии при помощи микроскопа NanoEducator и метод оптической микроскопии с помощью прибора ПМТ 3.	ru
dc.description.abstract	Metal microhardness measurements is considered by various methods in this work. The method of atomic force microscopy using a microscope NanoEducator vs. the method of optical microscopy using the PMT 3 were compared.	en
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	ru	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation.ispartof	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017	ru
dc.title	Измерение микротвердости методом атомно-силовой микроскопии	ru
dc.title.alternative	Study of microhardness by atomic force microscopy	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"	en
dc.conference.date	27.08.2017-30.08.2017	-
local.description.firstpage	127	-
local.description.lastpage	128	-
local.description.order	P-12	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-0-7_2017_075.pdf		281,84 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.