Микроскопия периодически - структурированных слоев сформированных ионной имплантацией

Морозова, А. С.; Рогов, А. М.; Воробьев, В. В.; Евтюгин, В. Г.; Осин, Ю. Н.; Нуждин, В. И.; Валеев, В. Ф.; Степанов, А. Л.; Morozova, A. S.; Rogov, A. M.; Vorobev, V. V.; Evtugyn, V. G.; Osin, Y. N.; Nuzhdin, V. I.; Valeev, V. F.; Stepanov, A. L.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104173

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Морозова, А. С.	ru
dc.contributor.author	Рогов, А. М.	ru
dc.contributor.author	Воробьев, В. В.	ru
dc.contributor.author	Евтюгин, В. Г.	ru
dc.contributor.author	Осин, Ю. Н.	ru
dc.contributor.author	Нуждин, В. И.	ru
dc.contributor.author	Валеев, В. Ф.	ru
dc.contributor.author	Степанов, А. Л.	ru
dc.contributor.author	Morozova, A. S.	en
dc.contributor.author	Rogov, A. M.	en
dc.contributor.author	Vorobev, V. V.	en
dc.contributor.author	Evtugyn, V. G.	en
dc.contributor.author	Osin, Y. N.	en
dc.contributor.author	Nuzhdin, V. I.	en
dc.contributor.author	Valeev, V. F.	en
dc.contributor.author	Stepanov, A. L.	en
dc.date.accessioned	2021-09-20T13:51:40Z	-
dc.date.available	2021-09-20T13:51:40Z	-
dc.date.issued	2017	-
dc.identifier.citation	Микроскопия периодически - структурированных слоев сформированных ионной имплантацией / А. С. Морозова, А. М. Рогов, В. В. Воробьев и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 112 p.	ru
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-0-7	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/104173	-
dc.description.abstract	Описан способ получения структурированного композиционного материала на подложке из халькогенидного стекла (GeSe) при имплантации ионами Ag+. Методами СЗМ и СЭМ показано, что в результате на поверхности GeSe образуется дифракционная решетка с периодом ~ 25 мкм и высотой ступенек ~ 170-200 нм.	ru
dc.description.abstract	An idea to create microstructured composite material on a GeSe glass substrate by Ag+ ion implantation is realized. With the use of scanning electron microscopy and atomic-force microscopy it was demonstrated that about creation of the diffraction grating on GeSe glass surface with the period of ~25mkm and ~170-200 nm of a step height.	en
dc.description.sponsorship	Работа выполнена при финансовой поддержке гранта РФФИ № 17-08-00850.	ru
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	ru	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation.ispartof	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017	ru
dc.title	Микроскопия периодически - структурированных слоев сформированных ионной имплантацией	ru
dc.title.alternative	Microscopy of periodically-structures layers formed by ion implantation	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"	en
dc.conference.date	27.08.2017-30.08.2017	-
local.description.firstpage	112	-
local.description.lastpage	113	-
local.description.order	P-03	-
local.fund.rffi	17-08-00850	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-0-7_2017_066.pdf		396,69 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.