Please use this identifier to cite or link to this item:
http://hdl.handle.net/10995/104170
Title: | Количественный анализ тонких пленок NbN методом EELS в режиме STEM |
Other Titles: | Quantitative analysis of NbN thin films by EELS technique in STEM mode |
Authors: | Дементьева, М. М. Приходько, К. Е. Гурович, Б. А. Кутузов, Л. В. Комаров, Д. А. Dementyeva, M. M. Prikhodko, K. E. Gurovich, B. A. Kutuzov, L. V. Komarov, D. A. |
Issue Date: | 2017 |
Publisher: | Ural Federal University |
Citation: | Количественный анализ тонких пленок NbN методом EELS в режиме STEM / М. М. Дементьева, К. Е. Приходько, Б. А. Гурович и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 106 p. |
Abstract: | Количественная информация об электрофизических свойствах ультратонких (5 нм) сверхпроводящих пленок NbN до и после облучения ионами с энергией (0.1-1 кэВ) исследуется методом спектроскопии энергетических потерь электронов в режиме сходящегося пучка электронов. Quantitative information about electrical properties of superconductive NbN ultrathin (0.5 nm) films before and after irradiation by ions with energies (0.1-1 keV) were investigated by Electron energy loss spectroscopy in STEM mode. |
URI: | http://hdl.handle.net/10995/104170 |
Conference name: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" |
Conference date: | 27.08.2017-30.08.2017 |
ISBN: | 978-5-9500624-0-7 |
Origin: | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 |
Appears in Collections: | Scanning Probe Microscopy |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
978-5-9500624-0-7_2017_063.pdf | 317,15 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.