Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10995/104170
Title: Количественный анализ тонких пленок NbN методом EELS в режиме STEM
Other Titles: Quantitative analysis of NbN thin films by EELS technique in STEM mode
Authors: Дементьева, М. М.
Приходько, К. Е.
Гурович, Б. А.
Кутузов, Л. В.
Комаров, Д. А.
Dementyeva, M. M.
Prikhodko, K. E.
Gurovich, B. A.
Kutuzov, L. V.
Komarov, D. A.
Issue Date: 2017
Publisher: Ural Federal University
Citation: Количественный анализ тонких пленок NbN методом EELS в режиме STEM / М. М. Дементьева, К. Е. Приходько, Б. А. Гурович и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 106 p.
Abstract: Количественная информация об электрофизических свойствах ультратонких (5 нм) сверхпроводящих пленок NbN до и после облучения ионами с энергией (0.1-1 кэВ) исследуется методом спектроскопии энергетических потерь электронов в режиме сходящегося пучка электронов.
Quantitative information about electrical properties of superconductive NbN ultrathin (0.5 nm) films before and after irradiation by ions with energies (0.1-1 keV) were investigated by Electron energy loss spectroscopy in STEM mode.
URI: http://hdl.handle.net/10995/104170
Conference name: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Conference date: 27.08.2017-30.08.2017
ISBN: 978-5-9500624-0-7
Origin: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Appears in Collections:Scanning Probe Microscopy

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
978-5-9500624-0-7_2017_063.pdf317,15 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.