ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/104170Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Дементьева, М. М. | ru |
| dc.contributor.author | Приходько, К. Е. | ru |
| dc.contributor.author | Гурович, Б. А. | ru |
| dc.contributor.author | Кутузов, Л. В. | ru |
| dc.contributor.author | Комаров, Д. А. | ru |
| dc.contributor.author | Dementyeva, M. M. | en |
| dc.contributor.author | Prikhodko, K. E. | en |
| dc.contributor.author | Gurovich, B. A. | en |
| dc.contributor.author | Kutuzov, L. V. | en |
| dc.contributor.author | Komarov, D. A. | en |
| dc.date.accessioned | 2021-09-20T13:51:40Z | - |
| dc.date.available | 2021-09-20T13:51:40Z | - |
| dc.date.issued | 2017 | - |
| dc.identifier.citation | Количественный анализ тонких пленок NbN методом EELS в режиме STEM / М. М. Дементьева, К. Е. Приходько, Б. А. Гурович и др. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 106 p. | ru |
| dc.identifier.isbn | 978-5-9500624-0-7 | - |
| dc.identifier.uri | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104170 | - |
| dc.description.abstract | Количественная информация об электрофизических свойствах ультратонких (5 нм) сверхпроводящих пленок NbN до и после облучения ионами с энергией (0.1-1 кэВ) исследуется методом спектроскопии энергетических потерь электронов в режиме сходящегося пучка электронов. | ru |
| dc.description.abstract | Quantitative information about electrical properties of superconductive NbN ultrathin (0.5 nm) films before and after irradiation by ions with energies (0.1-1 keV) were investigated by Electron energy loss spectroscopy in STEM mode. | en |
| dc.format.mimetype | application/pdf | en |
| dc.language.iso | ru | en |
| dc.publisher | Ural Federal University | en |
| dc.relation.ispartof | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 | ru |
| dc.title | Количественный анализ тонких пленок NbN методом EELS в режиме STEM | ru |
| dc.title.alternative | Quantitative analysis of NbN thin films by EELS technique in STEM mode | en |
| dc.type | Conference Paper | en |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject | en |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
| dc.conference.name | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" | en |
| dc.conference.date | 27.08.2017-30.08.2017 | - |
| local.description.firstpage | 106 | - |
| local.description.lastpage | 107 | - |
| local.description.order | O-44 | - |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-0-7_2017_063.pdf | 317,15 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.