Магнитно-силовая резонансная микроскопия

Abstract

В докладе представлен обзор методов диагностики наноструктур на основе резонансных методик магнитной зондовой микроскопии. Рассматриваются магнитно-силовая микроскопия (МСМ), микроскопия вихревых токов (МВТ) и магнитно-резонансная силовая микроскопия (МРСМ). Обсуждаются применения этих методов для анализа токопроводящих свойств, магнитной структуры, а также спектров и пространственных мод резонансных колебаний намагниченности широкого круга планарных наноструктур.

We present review the methods for diagnostics of nanostructures based on resonant modes of magnetic probe microscopy. We consider magnetic force microscopy (MFM), eddy current microscopy (ECM) and magntic resonance force microscopy (MRFM). The application of these methods for the analysis of conductive properties, magnetic structure, spectra and resonant spatial modes of magnetization oscillations for the wide range of nanostructures is discussed.