1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104148
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorPutilov, A. V.en
dc.contributor.authorTrainer, D. J.en
dc.contributor.authorGiorgio, C. Di.en
dc.contributor.authorSaari, T.en
dc.contributor.authorWang, B.en
dc.contributor.authorWolak, M.en
dc.contributor.authorChandrasena, R. U.en
dc.contributor.authorLane, C.en
dc.contributor.authorChang, T.-R.en
dc.contributor.authorJeng, H.-T.en
dc.contributor.authorLin, H.en
dc.contributor.authorKronast, F.en
dc.contributor.authorGray, A. X.en
dc.contributor.authorXi, X. X.en
dc.contributor.authorNieminen, J.en
dc.contributor.authorBansil, A.en
dc.contributor.authorIavarone, A.en
dc.date.accessioned2021-09-20T13:51:37Z-
dc.date.available2021-09-20T13:51:37Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationInter-Layer Coupling Induced Bandgap Reduction in Ultrathin MoS2 / A. V. Putilov, D. J. Trainer, C. Di. Giorgio et al. // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 71 p.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-0-7-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/104148-
dc.description.abstractWe report on a study of highly crystalline islands of MoS2 grown on HOPG substrate. Using STM/STS we find that the valence band edge shifts as a function of the layer number. Numerical calculations reveal the mechanism underlying the bandgap reduction and the role of the interfacial Sulfur atoms is clarified.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017ru
dc.titleInter-Layer Coupling Induced Bandgap Reduction in Ultrathin MoS2en
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"en
dc.conference.date27.08.2017-30.08.2017-
local.description.firstpage71-
local.description.lastpage72-
local.description.orderO-24-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_043.pdf265,99 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.